恭喜恭喜！！ 【安奈公司技術(shù)人員多次與科瑞達(dá)采購人溝通、商討，上門量尺寸、設(shè)計(jì)、提供設(shè)計(jì)圖紙 】南京安奈試驗(yàn)設(shè)備有限公司在2020年07月15日與合肥科瑞達(dá)激光設(shè)備有限公司簽訂一臺(tái)步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室

設(shè)計(jì)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

3.1 GB/T11158-2006   高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件     

3.2 GB/T10592-2008   高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.3 GB10586-2006     濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

3.4 GB10589-2006     低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.5 GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

3.6 GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

   3.7 GB/T2423.3-2006 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)

   3.8 GB/T2423.4-2008 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

   3.9 GB/T2423.34-2012 試驗(yàn)ZAD:溫濕度組合試驗(yàn)方法

   3.10 GJB150A-2009  jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法

   3.11 IEC61215-2016 美光伏檢測(cè)方法

四、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

五、主要技術(shù)性能參數(shù)（空載狀態(tài)下）

5.1型    號(hào)：  GDJSS-022C

5.2內(nèi)部尺寸：  3000×3000×2500mm（深×寬×高）

5.3外形尺寸約：3650×3250×3100mm（深×寬×高，不含外置制冷機(jī)組部分及電控柜）

5.4溫度范圍：  -40℃～110℃（空載、可調(diào)）

5.5溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

5.6溫度偏差：  ≤±2.0℃

5.7降溫速率:   0.7℃～1.0℃/min (受控溫度范圍：-40℃～85℃）

5.8升溫速率：  1℃～3℃/min (受控溫度范圍：-40℃～85℃）

5.9濕度范圍：  20%RH～98%RH（在15℃～85℃情況下）

5.10濕度偏差： ≤±3.0%RH （濕度＞75%RH時(shí)）

                  ≥±3.0%RH （濕度＜75%RH時(shí)）

5.11加熱方式： 鎳鉻合電熱絲式

5.12制冷方式： 風(fēng)冷復(fù)迭機(jī)械壓縮制冷組

5.13均勻承重負(fù)載： ≤500KG/㎡

5.14噪音：≤75db（設(shè)備正前方1m，高度1.2m處）